Mikroskop, który widzi także to, czego wolelibyśmy nie oglądać

Publikacja IPal PAN — Förster, M.W., Otter, L.M., Brocks, J.J., Jayasoma, K., Cisneros-Lazaro, D., Nowak, D., Stolarski, J., Knowles, B. 2025. Quality control measures for enhancing confidence in nanoscale IR spectroscopy. Geostandards and Geoanalytical Research, https://doi.org/10.1111/ggr.70014.

Rycina: przykłady zanieczyszczeń wykrytych metodą PiFM na powierzchniach próbek: (a) cząstki krzemionki użytej do polerowania; (b)–(c) plamy silikonu (PDMS) przed i po usunięciu alkoholem; (d)–(e) ślady węglanowego dodatku do rękawiczek nitrylowych po 10s oraz 20h kontakcie.

Wyobraźmy sobie mikroskop, który potrafi „zajrzeć” w świat cząsteczek miliard razy dokładniej niż tradycyjne techniki. To właśnie oferuje mikroskopia sił fotoindukowanych (PiFM), otwierając nowe możliwości badań w naukach o Ziemi i środowisku. Tak duża czułość ma jednak swoją cenę. Urządzenie rejestruje też ślady rękawiczek, skóry czy materiałów laboratoryjnych. Nasze badania pokazują, jak rozpoznać te ukryte zanieczyszczenia i jak ich unikać, by analizy były naprawdę wiarygodne.